Minitest 3100測厚儀-五通用校準方法的詳細資料：

Minitest 3100測厚儀-五通(tong)用校(xiao)準方法

Minitest 3100測厚儀校準有五種不同的方法：

1.標準校準：推薦用于均勻表面上的測量，如果測量對象與ElektroPhysik零板具有相同的材料，尺寸和曲率。

2.一點校準（不使用校準箔調零）：如果允許測量誤差達±±（讀數的3％*加上探頭的常數誤差），建議使用。 （恒定探頭誤差示例：F.1.6：1μm）。

3.兩點校準（使用校準箔校準和校準）：如果預期的讀數將接近校準值，并且探頭的允許誤差將zui大為±（1％... 3％讀數*（根據探頭）加恒定探頭誤差）*參照實驗室條件下提供的校準標準。
4.兩點校準（使用一組兩個校準箔）：a）推薦用于粗糙表面上的測量。 b）如果要預期的厚度在兩個校準箔的厚度之間，建議在光滑表面進行測量。

5.通過涂層（CTC）進行校準：使用校準箔進行校準。如果測試樣品被涂覆并且沒有未涂覆的樣品可用于比較，則推薦使用。該方法適用于以下探針：F05，F1.6，F3和FN1.6（僅含鐵部件），F1.6 / 90，F2 / 90，F10，F20和F50

注：如果儀器為特定目的進行校準，則校準值將存儲在存儲器中，直到更改為止（參見4.1.8校準值的穩定性）。 如果要對某個探頭進行校準，只需進行重新校準即可。 這將自動刪除以前的校準值，并保存新的校準值，以便立即使用。、

注意：

校準程序應從頭開始重新啟動，如果
·讀取不正確
·輸入了不正確的命令
- 儀表已關閉

MiniTest 3100還(huan)具(ju)有10,000個讀(du)數(shu)的總內存容量(liang)，并可以將讀(du)數(shu)存儲在(zai)10個應用(yong)程(cheng)序存儲器(qi)中(zhong)(zhong)，每(mei)個10個批次(ci)。 一旦執行的校(xiao)準保(bao)留在(zai)應用(yong)程(cheng)序存儲器(qi)中(zhong)(zhong)。 測量(liang)系(xi)列的統(tong)計評(ping)估(gu)允許用(yong)戶以一個測量(liang)系(xi)列中(zhong)(zhong)的平均值，zui大值，zui小(xiao)值，標準差和(he)讀(du)數(shu)數(shu)來評(ping)估(gu)涂層。

非破壞性測量包括以下測量范圍：

0 - 50 mm，用于鋼鐵上的非磁性涂層。
0 - 100 mm用于有色金屬絕緣涂層。
10 - 200μm用于絕緣基材上的銅層
0 - 1600μm用于鋼鐵和有色金屬上的粉末涂料

主要特征：
適用于各種應用的各種耐磨探頭。
具有自動基板檢測功能的通用探頭可以快速測量鋼鐵和有色金屬。
具有幾乎無限壽命的耐磨探頭。
測量精度高，重復性好。
測量值的存儲和評估。
粗糙表面的特殊校準功能和未知涂層的校準（CTC方法）。

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