GE美國 CL5

更新時間：	2020-02-10
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GE美國 CL5
CL 5精密測厚儀具有功能全面、使用(yong)(yong)簡便、體積小(xiao)巧和結構牢(lao)固的(de)優點。圖形(xing)顯示(shi)為(wei)用(yong)(yong)戶(hu)提供(gong)了6種(zhong)不同的(de)操作模式。用(yong)(yong)戶(hu)可以在常(chang)規、Z小(xiao)值(zhi)掃(sao)描、Z大值(zhi)掃(sao)描、差值(zhi)/減(jian)薄率、厚度+A掃(sao)描（選件(jian)）或聲速測試（選件(jian)）中進(jin)行選擇。SD卡(ka)存(cun)儲(chu)(chu)系統將所(suo)有數據記錄和設(she)置信息存(cun)儲(chu)(chu)在可拆卸SD存(cun)儲(chu)(chu)卡(ka)上。

GE美國 CL5的詳細資料：

品牌	DRUCK/德魯克	價格區間	1萬-2萬
應用領域	電子,交通,冶金,航天,汽車

GE美(mei)國 CL5

GE的(de)(de)檢測技術業(ye)務(wu)（GE Measurement＆Control的(de)(de)一部分）與您(nin)合作(zuo)，以滿足您(nin)的(de)(de)無損(sun)檢測需(xu)求。提供(gong)全(quan)套無損(sun)檢測（NDT）解決方案，包括(kuo)射線照相，計算機斷層掃描，遠程視覺檢測，超聲(sheng)波，電(dian)磁，硬度測試(shi)和計量。結(jie)合Rhythm®軟件平臺，GE是您(nin)生產力解決方案的(de)(de)供(gong)應商，提供(gong)準確(que)可靠的(de)(de)檢測數據，可與您(nin)的(de)(de)同事和客戶無縫共享。

GE的(de)檢測技術(shu)公司是利(li)用電磁，γ射線和(he)X射線，超聲波和(he)可(ke)見(jian)光(guang)譜提供先進的(de)無損(sun)成像技術(shu)的(de)企(qi)業(ye)。我們有(you)非常(chang)深入和(he)廣(guang)泛的(de)專門知識，可(ke)以適(shi)用于您(nin)的(de)需求。

CL5用于對金屬，鋼和塑料部件進行的厚度測量，其復雜的幾何形狀常常使傳統測量儀難以檢測。它可以實時顯示超聲波響應，通過使用可選的實時A掃描來正確對準傳感器，并在組件變得更復雜時驗證測試的準確性。 CL5的用戶友好型設計提供直觀的操作，易于理解的屏幕提示，無需按鍵。

特點和好處

數(shu)據(ju)管理(li)通(tong)過一(yi)個(ge)(ge)可(ke)選(xuan)的可(ke)編(bian)程數(shu)據(ju)記(ji)錄器(qi)，使(shi)用一(yi)個(ge)(ge)標(biao)準的SD卡(ka)
增強的測(ce)量性能，獲得高度穩定(ding)和(he)可重(zhong)復的讀數
快速掃描所(suo)有型號的探頭對齊和數據(ju)控制
堅固的住房，環境(jing)密封幾(ji)乎(hu)到(dao)處都可(ke)以使用
采用3節標準“AA”電(dian)池或(huo)1節鋰聚(ju)合物電(dian)池組（可在儀器中充(chong)電(dian)）的(de)靈(ling)活(huo)電(dian)源，
工作溫(wen)度(du)范圍從-10°C到(dao)60°C
空心/填充(chong)厚度數字(zi)表示耦合(he)狀態
可視LED報(bao)警上限和(he)下限
客戶(hu)參(can)數設置(zhi)用于特殊配(pei)置(zhi)和(he)快速(su)儀器配(pei)置(zhi)
多語言用戶界(jie)面
自動控制超聲波參數（增(zeng)益和門控制）
六種不(bu)同的(de)測量和顯示模式(shi)用于(yu)特定(ding)應用的(de)操作
各種各樣的接觸和延遲(chi)線探頭
帶有SD存儲卡的可選實(shi)時A掃描和(he)可編程數據(ju)記錄器
聲速確定的(de)可(ke)選速度模(mo)式