Surtronic DUO高精度粗糙度儀的詳細資料：

Surtronic DUO高精度粗糙度儀

表面粗糙度基礎：
    每個組件(jian)表面都(dou)會有(you)一些紋(wen)理形(xing)狀因結構(gou)和制(zhi)造(zao)方式(shi)而(er)有(you)所(suo)差異。這些表面可以劃分為(wei)三(san)個主要類別(bie):粗(cu)糙度、波紋(wen)度和形(xing)狀。為(wei)了控制(zhi)制(zhi)造(zao)過程或(huo)預測組件(jian)在使用(yong)過程中(zhong)的(de)行(xing)為(wei)，有(you)必要使用(yong)表面紋(wen)理參數對表面特征進行(xing)量化。

表面紋理參數可分為三個基本類型:
振幅參數-測量表面偏差的垂直特征
間距參數-測量表面偏差的水平特征
混合參數-間距參數和振幅參數的組合
樣本長度-輪廓會劃分為樣本長度|，它的長度足以容納進行可靠的統計所需的數據量。對于粗糙度和波紋度分析，樣本長度等于選擇的截止長度。
截止長度(Lc) -截止長度是使用電子或數學方法移除或減少不必要的數據以查看重點區域的波長的濾波器。樣本長度也稱為截止長度。
測定長度-用于評估要測定輪廓的X軸方向的長度。測定長度可能包含-一個或多個樣本長度。對于原始輪廓，測定長度等于樣本長度。
標準一適用時，泰勒*霍普森設備會遵從ISO3274-1996、ISO 4287-1997、ISO 4288-1996、ISO11562和其他標準所規定的程序。
測量原理：
通過(guo)(guo)采用耐磨的金剛石測(ce)針部件(jian)，以及(ji)精密的機動驅動裝置，確(que)保(bao)行(xing)進正確(que)的水平(ping)距離。當(dang)測(ce)針劃過(guo)(guo)波(bo)峰和(he)波(bo)谷時(shi)，高感應度的壓電傳感器(qi)能檢測(ce)到(dao)它(ta)的垂直(zhi)移動，然后(hou)將(jiang)機械移動轉化為電子信號(hao)。電子信號(hao)將(jiang)進行(xing)數(shu)字(zi)化處理并(bing)發送到(dao)微處理器(qi)，然后(hou)使(shi)用標(biao)準化算(suan)法即時(shi)計算(suan)表面(mian)粗(cu)糙度參數(shu)。