影響QNix 尼克斯測厚儀測量的幾種因素
每一種測厚儀器都有一個臨界厚度，大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響;對試件表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試件邊緣或內轉角處進行測量是不可靠的;試件的曲率對測量有影響，隨著曲率半徑的減少明顯地增大，因此，在彎曲試件的表面上測量也是不可靠的;
基體金屬和涂層的表面粗糙度對測量有影響。粗糙度增大，影響增大，粗糙表面會引起系統誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同的位置上應增加測量的次數，以克服這種偶然誤差。如果基體上基體金屬粗糙，還必須在未涂的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點，或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解去除涂層后，再校對儀器的零點;
周圍各種電氣設備所產生的強磁場，會嚴重干擾磁性測厚工作;
探頭會使軟涂層試件變形，因此在這些試件上測不出可靠的數據;
妨礙探頭與涂層表面緊密接觸的附著物質，必須清除，在測量中，要保持壓力恒定，探頭與試件表面保持垂直，才能達到的測量。
磁性法測量厚度受基體金屬性變化的影響(在實際應用中，無損檢測低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的)，為避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準;
基體(ti)金(jin)屬的(de)電導率對測量(liang)有(you)影響，而基體(ti)金(jin)屬的(de)電導率與(yu)其(qi)材料成(cheng)份及(ji)熱(re)處理方法有(you)關,應使用(yong)與(yu)試件基體(ti)金(jin)屬具(ju)有(you)相同性質的(de)標準片對儀器進行(xing)校準。
影響QNix 尼克斯測厚儀精度的十一條因素：
1、基體金屬磁性質
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準;亦可用待涂覆試件進行校準。
2、基體金屬厚度
每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。
3、基體金屬電性質
基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關。使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準。
4、邊緣效應
本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進行測量是不可靠的。
5、曲率
試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
6、試件的變形
測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數據。
7、表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應增加測量的次數，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點;或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點。
8、磁場
周圍各種電氣設備所產生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測厚工作。
9、附著物質
本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感，因此，必須清除附著物質，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。
10、測頭壓力
測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響QNix 尼克斯測厚儀的使用方法測量的讀數，因此，要保持壓力恒定。
11、測頭的取向
測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應當使測頭與試樣表面保持垂直。
采用(yong)(yong)QNix 尼克斯測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)這種(zhong)無損方法(fa)既不破(po)壞(huai)覆層(ceng)也不破(po)壞(huai)基材，檢測(ce)(ce)速(su)度快，能(neng)(neng)使大量(liang)的檢測(ce)(ce)工作經濟地(di)進(jin)行，但前提是能(neng)(neng)了解(jie)影響QNix 尼克斯測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)精度的因素(su)，做(zuo)到有的放矢，在實際應(ying)用(yong)(yong)中才能(neng)(neng)真正發揮其作用(yong)(yong)。
QNix 7500測厚儀尼克斯測厚儀代理
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