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菲希(xi)爾Couloscope CMS2 STEP庫侖法(fa)測(ce)厚儀 這個系(xi)列儀器(qi)根據 DIN EN ISO 2177 標準的(de)(de)(de)庫侖法(fa)。金(jin)屬或非金(jin)屬基材上的(de)(de)(de)金(jin)屬鍍(du)層(ceng)，通過在控制電流條件下電解(jie)腐蝕--------實(shi)際上就(jiu)是(shi)電鍍(du)的(de)(de)(de)反過程。所載入的(de)(de)(de)電流與要剝離(li)的(de)(de)(de)鍍(du)層(ceng)厚度是(shi)成正比的(de)(de)(de)，假如電流和剝離(li)面積保(bao)持不變(bian)，鍍(du)層(ceng)厚度與電解(jie)時(shi)間就(jiu)是(shi)成正比的(de)(de)(de)關系(xi)。

多鍍(du)(du)層(ceng)如銅鍍(du)(du)鎳鍍(du)(du)錫測厚儀Fischer CMS2 CMS2可以測量(liang)幾乎所有基材上金屬鍍(du)(du)層(ceng)的厚度，包括(kuo)多鍍(du)(du)層(ceng)結構;它的工作(zuo)原(yuan)理是根據陽極溶(rong)解的庫侖法（DIN EN ISO 2177）。

德國(guo)菲希爾電解測(ce)(ce)厚(hou)儀 根據庫侖法(fa)測(ce)(ce)量(liang)鍍(du)層(ceng)厚(hou)度(du)和多(duo)層(ceng)鎳(nie)電位差。很(hen)多(duo)常見的單、雙鍍(du)層(ceng)例如鐵鍍(du)鋅或者銅鍍(du)鎳(nie)鍍(du)錫都可以用CMS2簡單快速地測(ce)(ce)量(liang)。這個方法(fa)為(wei)任何金屬(shu)鍍(du)層(ceng)提供了(le)準確的測(ce)(ce)量(liang)。在厚(hou)度(du)范圍 0.05 - 50 μm內， 很(hen)多(duo)材料不需要預設定(ding)；基材組(zu)成和幾何形狀對(dui)于測(ce)(ce)量(liang)都是(shi)無關緊要的。

Couloscope CMS2電(dian)(dian)解法(fa)鍍層(ceng)(ceng)測厚儀 在電(dian)(dian)鍍行業中，對多(duo)(duo)層(ceng)(ceng)鎳(nie)(nie)鍍層(ceng)(ceng)中各自層(ceng)(ceng)的(de)(de)(de)(de)同時的(de)(de)(de)(de)厚度和電(dian)(dian)極電(dian)(dian)位的(de)(de)(de)(de)測定變成了(le)一個越來越重要的(de)(de)(de)(de)需求(qiu)。的(de)(de)(de)(de)多(duo)(duo)鍍層(ceng)(ceng)組成為不含硫(liu)(liu)的(de)(de)(de)(de)半(ban)光(guang)亮(liang)鎳(nie)(nie)層(ceng)(ceng)和含硫(liu)(liu)的(de)(de)(de)(de)光(guang)亮(liang)鎳(nie)(nie)層(ceng)(ceng)。這兩(liang)個鎳(nie)(nie)層(ceng)(ceng)?reg;間足(zu)夠的(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)位差導(dao)致(zhi)了(le)光(guang)亮(liang)鎳(nie)(nie)層(ceng)(ceng)優先腐(fu)蝕于(yu)半(ban)光(guang)亮(liang)鎳(nie)(nie)層(ceng)(ceng)。這種次序也就延遲了(le)整個鎳(nie)(nie)層(ceng)(ceng)的(de)(de)(de)(de)穿(chuan)透速度，并(bing)且(qie)給了(le)基材相對于(yu)單鍍層(ceng)(ceng)更好(hao)的(de)(de)(de)(de)防(fang)腐(fu)保護。

Couloscope CMS2 STEP庫侖(lun)儀(yi)(yi)電解液 COULOSCOPE CMS STEP 雙層(ceng)鎳鍍層(ceng)測量 Couloscope CMS2 STEP 電解測厚儀(yi)(yi) 4種(zhong)不同(tong)類(lei)型的測量臺(tai)適合于測量各種(zhong)種(zhong)類(lei)的被(bei)測物體。 Couloscope CMS2 STEP 庫侖(lun)測電位差測厚儀(yi)(yi)