超聲波(bo)測(ce)(ce)厚儀在(zai)測(ce)(ce)量前(qian)應清除(chu)被測(ce)(ce)物體表面(mian)所有的灰塵、污垢及銹蝕物，鏟除(chu)油漆等覆蓋物。過(guo)份(fen)粗(cu)糙的表面(mian)會引(yin)起測(ce)(ce)量誤差，甚至儀器無(wu)讀數。測(ce)(ce)量前(qian)應盡量使(shi)(shi)被測(ce)(ce)材料(liao)表面(mian)光滑，可使(shi)(shi)用磨(mo)、拋、銼等方法(fa)使(shi)(shi)其光滑。還可使(shi)(shi)用高粘(zhan)度耦合劑。
答：用超(chao)聲波(bo)測厚儀測量圓柱(zhu)型(xing)材(cai)料(liao)，如管子、油(you)桶等，選擇探頭軸(zhou)線與被測材(cai)料(liao)軸(zhou)線相交時為理想情況。簡單地說，將探頭與被測材料耦合，然后圍繞被測物軸線轉動探頭或者垂直于被測物軸線平行移動探頭，使探頭延遲塊的中線與被測物接觸，選擇穩定的讀數，作為材料的準確厚度。
問(wen)：超(chao)聲(sheng)波(bo)測(ce)(ce)(ce)厚儀(yi)對于不(bu)同(tong)直徑的被測(ce)(ce)(ce)物選用不(bu)同(tong)的延遲塊對測(ce)(ce)(ce)量會(hui)有(you)幫(bang)助的。可以在(zai)被測(ce)(ce)(ce)物表(biao)面蒙上一塊細(xi)砂(sha)紙，然后前(qian)后移動探頭(tou)，會(hui)很容易就把在(zai)探頭(tou)延遲塊前(qian)端磨(mo)出圓(yuan)弧。為(wei)了(le)得到(dao)一個令人(ren)滿意(yi)的超(chao)聲(sheng)響應，被測(ce)(ce)(ce)材料(liao)的另一表(biao)面必(bi)須(xu)與(yu)被測(ce)(ce)(ce)面平行或同(tong)軸，否則將引起(qi)測(ce)(ce)(ce)量誤差或根(gen)本無讀數顯示(shi)。材料(liao)的厚度(du)與(yu)超(chao)聲(sheng)波(bo)傳播速(su)度(du)均受(shou)溫度(du)的影響，若對測(ce)(ce)(ce)量精(jing)度(du)要(yao)求(qiu)較高時，可采用試(shi)塊對比法，即用相(xiang)同(tong)材料(liao)的試(shi)塊在(zai)相(xiang)同(tong)溫度(du)條件(jian)進行測(ce)(ce)(ce)量，并求(qiu)得溫度(du)補償系數，用此系數修(xiu)正被測(ce)(ce)(ce)工(gong)件(jian)的實測(ce)(ce)(ce)值(zhi)。
答：對于一些如(ru)纖維、多孔、粗(cu)粒子材(cai)料(liao)(liao)，它們(men)會造成(cheng)超聲波(bo)的大量散射和(he)能量衰減，以致(zhi)出現反常的讀數甚至無讀數，在(zai)這(zhe)種情況下，則說明該材(cai)料(liao)(liao)不(bu)(bu)適于用此測(ce)(ce)(ce)厚儀測(ce)(ce)(ce)試。對不(bu)(bu)同材(cai)料(liao)(liao)在(zai)不(bu)(bu)同條件下進行測(ce)(ce)(ce)量，校準(zhun)試塊的材(cai)料(liao)(liao)越接近于被(bei)測(ce)(ce)(ce)材(cai)料(liao)(liao)，測(ce)(ce)(ce)量就(jiu)越。
問：超聲(sheng)波測厚儀(yi)理想的(de)(de)參考(kao)試(shi)塊將是一組被測材(cai)料的(de)(de)不同厚度的(de)(de)試(shi)塊，試(shi)塊能提供(gong)儀(yi)器(qi)補償校正因(yin)素(su)。為了(le)滿足zui大精度測量的(de)(de)要求，一套參考(kao)試(shi)塊將是很(hen)重要的(de)(de)。
答：超聲波測(ce)厚(hou)儀在(zai)(zai)大部(bu)分情(qing)況下(xia)，只要使用(yong)(yong)一(yi)(yi)個(ge)參(can)考試(shi)(shi)塊(kuai)就能得(de)到令(ling)人滿意的測(ce)量精度(du)，這(zhe)個(ge)試(shi)(shi)塊(kuai)應具有與被(bei)測(ce)材料(liao)相(xiang)同的材質和相(xiang)近(jin)的厚(hou)度(du)。取均勻被(bei)測(ce)材料(liao)用(yong)(yong)千分尺測(ce)量后就能作為(wei)一(yi)(yi)個(ge)試(shi)(shi)塊(kuai)。對于(yu)(yu)薄材料(liao)，在(zai)(zai)它的厚(hou)度(du)接近(jin)于(yu)(yu)探(tan)頭(tou)測(ce)量下(xia)*，可用(yong)(yong)試(shi)(shi)塊(kuai)來(lai)確(que)定準確(que)的低限。不要測(ce)量低于(yu)(yu)下(xia)限厚(hou)度(du)的材料(liao)。如果一(yi)(yi)個(ge)厚(hou)度(du)范圍是可以(yi)(yi)估計的，那么試(shi)(shi)塊(kuai)的厚(hou)度(du)應選上限值。當被(bei)測(ce)材料(liao)較厚(hou)時(shi)，特別是內部(bu)結(jie)構較為(wei)復雜的合金等(deng)，應在(zai)(zai)一(yi)(yi)組試(shi)(shi)塊(kuai)中選擇一(yi)(yi)個(ge)接近(jin)被(bei)測(ce)材料(liao)的，以(yi)(yi)便(bian)于(yu)(yu)掌握(wo)校準。
