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正式揭曉解決超聲波測厚儀常見問題有哪些方面
點擊次(ci)數:812 更新時間:2022-08-29 打印本頁面 返回

超聲波測厚儀在測量前應清除被測物體(ti)表面(mian)所有的灰塵、污垢及銹蝕物,鏟除油漆(qi)等(deng)覆蓋物。過份粗糙的表面(mian)會(hui)引起測量誤差,甚至(zhi)儀器無讀(du)數。測量前應盡量使(shi)被測材料表面(mian)光滑,可(ke)使(shi)用磨、拋、銼等(deng)方法(fa)使(shi)其光滑。還可(ke)使(shi)用高(gao)粘(zhan)度耦合劑。


答:用超聲波(bo)測(ce)厚儀測(ce)量圓(yuan)柱型材料(liao),如管子、油桶(tong)等(deng),選(xuan)擇探(tan)頭軸線(xian)(xian)與被(bei)測(ce)材料(liao)軸線(xian)(xian)相交時為理想情況。簡單地說,將探(tan)頭與被(bei)測(ce)材料(liao)耦合(he),然(ran)后圍(wei)繞被(bei)測(ce)物(wu)軸線(xian)(xian)轉動(dong)(dong)探(tan)頭或者垂(chui)直于被(bei)測(ce)物(wu)軸線(xian)(xian)平行移動(dong)(dong)探(tan)頭,使探(tan)頭延(yan)遲塊的中線(xian)(xian)與被(bei)測(ce)物(wu)接(jie)觸,選(xuan)擇穩定的讀數,作為材料(liao)的準確厚度。

問:超聲(sheng)波(bo)測(ce)厚儀對于不同(tong)直(zhi)徑的(de)被測(ce)物選用不同(tong)的(de)延(yan)遲塊對測(ce)量(liang)會有幫助的(de)。可以(yi)在被測(ce)物表面(mian)蒙上一(yi)塊細砂紙(zhi),然后前后移動探頭(tou),會很容易就把在探頭(tou)延(yan)遲塊前端(duan)磨出圓弧。為(wei)了得(de)到一(yi)個令人滿意的(de)超聲(sheng)響應,被測(ce)材(cai)料的(de)另一(yi)表面(mian)必須與被測(ce)面(mian)平行(xing)或同(tong)軸,否則(ze)將引(yin)起(qi)測(ce)量(liang)誤差或根本無讀數顯示。材(cai)料的(de)厚度(du)與超聲(sheng)波(bo)傳播速度(du)均(jun)受溫(wen)度(du)的(de)影響,若對測(ce)量(liang)精度(du)要求(qiu)較高(gao)時,可采用試塊對比法,即用相同(tong)材(cai)料的(de)試塊在相同(tong)溫(wen)度(du)條(tiao)件進行(xing)測(ce)量(liang),并求(qiu)得(de)溫(wen)度(du)補償(chang)系數,用此系數修正被測(ce)工件的(de)實測(ce)值。

答:對于一些如纖維、多孔(kong)、粗粒子材(cai)料,它們(men)會造成(cheng)超聲波(bo)的(de)大量(liang)散射和(he)能量(liang)衰減(jian),以致出現反常的(de)讀數(shu)甚(shen)至(zhi)無讀數(shu),在這種情(qing)況下,則(ze)說明該材(cai)料不適于用(yong)此測厚(hou)儀測試(shi)。對不同(tong)材(cai)料在不同(tong)條件(jian)下進行測量(liang),校準試(shi)塊的(de)材(cai)料越接近于被測材(cai)料,測量(liang)就越。

問:超聲波測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)理想的(de)參考試塊將是(shi)(shi)一組被(bei)測(ce)(ce)材料(liao)的(de)不同厚(hou)(hou)度的(de)試塊,試塊能提(ti)供(gong)儀(yi)器補償校正(zheng)因素(su)。為了滿足zui大精(jing)度測(ce)(ce)量的(de)要求,一套參考試塊將是(shi)(shi)很重要的(de)。
答:超聲波測(ce)厚(hou)儀在(zai)(zai)大部分情況下,只要使用(yong)一(yi)個參考試塊就(jiu)(jiu)能得(de)到令人滿意(yi)的(de)(de)(de)測(ce)量(liang)精度,這個試塊應(ying)具有(you)與被測(ce)材(cai)(cai)料相(xiang)同(tong)的(de)(de)(de)材(cai)(cai)質和(he)相(xiang)近的(de)(de)(de)厚(hou)度。取(qu)均勻被測(ce)材(cai)(cai)料用(yong)千(qian)分尺測(ce)量(liang)后(hou)就(jiu)(jiu)能作為一(yi)個試塊。對于薄材(cai)(cai)料,在(zai)(zai)它的(de)(de)(de)厚(hou)度接近于探頭測(ce)量(liang)下限,可用(yong)試(shi)(shi)塊來確定準確的低限(xian)(xian)。不要(yao)測(ce)量低于下限(xian)(xian)厚(hou)度的材料。如(ru)果一個厚(hou)度范圍是可以(yi)估計的,那么試(shi)(shi)塊的厚(hou)度應選上限(xian)(xian)值。當被(bei)(bei)測(ce)材料較厚(hou)時,特別(bie)是內部(bu)結構較為(wei)復雜的合金等,應在(zai)一組試(shi)(shi)塊中選擇一個接近被(bei)(bei)測(ce)材料的,以(yi)便于掌握校準。

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