Fischer代理DualScope FMP20磁性測厚儀的詳細資料：

Fischer代理DualScope FMP20磁性測厚儀

FISCHER生產的涂(tu)鍍層(ceng)測(ce)(ce)厚(hou)(hou)(hou)儀主要(yao)分為：X射線(xian)涂(tu)鍍層(ceng)測(ce)(ce)厚(hou)(hou)(hou)及(ji)材料分析儀、β射線(xian)測(ce)(ce)厚(hou)(hou)(hou)儀、電(dian)渦流法測(ce)(ce)厚(hou)(hou)(hou)儀、電(dian)磁感(gan)應測(ce)(ce)厚(hou)(hou)(hou)儀、庫侖法（多(duo)層(ceng)鎳電(dian)位差）測(ce)(ce)厚(hou)(hou)(hou)儀，除此(ci)之外還(huan)有包括(kuo) 微納米(mi)硬(ying)度(du)測(ce)(ce)試(shi)(shi)儀、電(dian)導率(lv)測(ce)(ce)試(shi)(shi)儀、鐵素體含(han)量測(ce)(ce)試(shi)(shi)儀、孔(kong)隙率(lv)測(ce)(ce)試(shi)(shi)儀 和 針孔(kong)測(ce)(ce)試(shi)(shi)儀 等在內的多(duo)種測(ce)(ce)試(shi)(shi)儀器。

FISCHER 公司生產的各類儀器，廣泛應用(yong)于航天(tian)工(gong)業、航空工(gong)業、造船(chuan)工(gong)業、港口機(ji)械、電(dian)鍍工(gong)業、顯像管流水線、電(dian)子(zi)工(gong)業（包括(kuo)印制電(dian)路行(xing)業、半導體工(gong)業）、汽車工(gong)業、石油化(hua)工(gong)、黃金珠寶(bao)、手表(biao)、大專院(yuan)校(xiao)、科研單(dan)位、第(di)三方測(ce)試(shi)機(ji)構(gou)等眾多(duo)行(xing)業。

Fischer代理DualScope FMP20磁性測厚儀

德(de)國菲希爾(er)DUALSCOPE FMP20涂鍍(du)層(ceng)測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)由(you)于(yu)采用(yong)了磁感(gan)應和電渦(wo)流兩種方(fang)法，FMP20涂鍍(du)層(ceng)測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)且具有自動識別基材(cai)的功能(neng)，這臺通用(yong)型儀(yi)器可以(yi)測(ce)(ce)量鐵/鋼上、非磁性金屬基材(cai)上和非導(dao)電基材(cai)上眾多涂鍍(du)層(ceng)的厚(hou)(hou)度。DUALSCOPE FMP20涂鍍(du)層(ceng)測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)使用(yong)帶(dai)曲率(lv)補償功能(neng)的探頭（Fischer）。

詳(xiang)細介紹：

DUALSCOPE FMP20涂(tu)鍍層(ceng)(ceng)測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)享譽的(de)(de)手(shou)(shou)提式儀(yi)器(qi)和插拔(ba)(ba)式探頭的(de)(de)新(xin)一(yi)(yi)(yi)代產品問世(shi)了，可以(yi)用來無損、高精(jing)度測(ce)(ce)量(liang)涂(tu)鍍層(ceng)(ceng)厚(hou)度。從(cong)我們(men)的(de)(de)新(xin)產品系列中選擇一(yi)(yi)(yi)款含智(zhi)慧型探頭的(de)(de)涂(tu)鍍層(ceng)(ceng)測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)可以(yi)滿足您特(te)定的(de)(de)測(ce)(ce)量(liang)需求。新(xin)一(yi)(yi)(yi)代手(shou)(shou)提式儀(yi)器(qi)FMP20配上種類(lei)繁多的(de)(de)插拔(ba)(ba)式探頭提供的(de)(de)測(ce)(ce)量(liang)。除(chu)了用戶只能創建一(yi)(yi)(yi)個應(ying)用程(cheng)式外，這些儀(yi)器(qi)操(cao)作(zuo)簡單、堅固耐用，幾乎(hu)適合每一(yi)(yi)(yi)種涂(tu)鍍層(ceng)(ceng)的(de)(de)測(ce)(ce)厚(hou)要(yao)求，這些應(ying)用包括廣泛的(de)(de)噴涂(tu)工件(jian)和特(te)殊(shu)的(de)(de)復雜(za)涂(tu)層(ceng)(ceng)。DUALSCOPE FMP20系列也具有一(yi)(yi)(yi)般的(de)(de)統計評估(gu)功能。

DualScope FMP20特性(xing)：

可(ke)連接所有(you)磁感應(ying)和電(dian)(dian)渦(wo)流探(tan)(tan)頭。自(zi)(zi)動識別(bie)(bie)探(tan)(tan)頭。自(zi)(zi)動識別(bie)(bie)基材(FMP20)。用戶友好操(cao)作界面(mian)。USB接口可(ke)連接計算機(ji)(ji)。240x160像素的(de)大尺寸、高對(dui)比度顯示(shi)器。通電(dian)(dian)后即可(ke)開始(shi)測(ce)量(liang)。放置(zhi)探(tan)(tan)頭后自(zi)(zi)動獲(huo)得測(ce)量(liang)數據(ju)。可(ke)儲(chu)存(cun)1000個測(ce)量(liang)數據(ju)。獲(huo)得測(ce)量(liang)數據(ju)后有(you)聲音信(xin)號。統(tong)計評估功(gong)能，例(li)如(ru)：平均(jun)值(zhi)、標(biao)準(zhun)偏(pian)差(cha)、zui小(xiao)值(zhi)、zui大值(zhi)、范圍。通過ZERO鍵(jian)校(xiao)零可(ke)快(kuai)速減(jian)少樣品形(xing)狀的(de)影(ying)響(xiang)。另(ling)外(wai)用1或2片標(biao)準(zhun)片校(xiao)準(zhun)儀(yi)器，可(ke)進(jin)一步減(jian)少形(xing)狀影(ying)響(xiang)。如(ru)果材質(zhi)和幾何形(xing)狀差(cha)別(bie)(bie)很大，可(ke)通過主(zhu)校(xiao)準(zhun)建立(li)的(de)特征曲線。主(zhu)校(xiao)準(zhun)信(xin)息儲(chu)存(cun)在探(tan)(tan)頭內(nei)。兩種測(ce)量(liang)單(dan)位：μm和mils。儀(yi)器自(zi)(zi)動關(guan)機(ji)(ji)或連續操(cao)作的(de)時間(jian)可(ke)調節。多種狀態提示(shi)（例(li)如(ru)：電(dian)(dian)池(chi)電(dian)(dian)壓下降(jiang)時的(de)警(jing)告信(xin)息）。鍵(jian)盤可(ke)鎖/限(xian)制操(cao)作模(mo)式。機(ji)(ji)械滑蓋(gai)可(ke)保(bao)護不用的(de)按鍵(jian)。多種語言設置(zhi)

測(ce)量(liang)范圍：測(ce)量(liang)范圍：磁性：0-1200 μm，渦流，0-800 μm,

測量精度：0～100μΜ：0.5μΜ，100～1200μΜ：0.5％

菲希爾FD13H測量探頭 
菲希爾FD13H測量探頭用于根據磁感應和渦流方法來測量涂鍍層厚度，帶微處理芯片的智慧型插入式探頭，彈性測量系統。
電纜長度：1.5m
測量范圍：0-2000 um NF/Fe，0-2000 um Iso/NF
測量誤差：0-50um：≤1um，50-1000um：≤2%，1000-2000um：≤3%
重復精度：0-100um：≤0.5um， 100-2000um：≤0.5%
菲希爾FD13H測量探頭包括：Fe 基材，Al 基材，各兩片標準片

附加服務：
校準標準片鑒定，校準服務，維修服務