ANOTEST YMP30-S 鋁氧化層致密性測量儀的詳細資料：

ANOTEST YMP30-S 鋁氧化層致密性測量儀

ANOTEST YMP30-S 鋁氧化層致密性測量儀特點

• 此手持式儀器測量氧化膜的導納（Y），符合 DIN EN ISO 12373-5 及 ASTM 457-67 標準。 測量范圍為 3 – 200 μS，測量槽直徑為 13 mm
• 通過可選的精準電子參考物質校準儀器

ANOTEST YMP30-S鋁陽極氧化膜密閉性測試儀典型應(ying)用領(ling)域

• 該儀器極適合快速簡便的對鋁材上的陽極氧化膜密閉性進行現場測量。 涂層的耐氣候性取決于導納（Y）

ANOTEST YMP30-S鋁陽極氧化膜密閉性測試儀特性:

-大液晶屏
-電池或AC電源操作
-插入探針后自動開始測量
-自動計算轉換為標準尺寸的導納
-密封較差時也可以測試(如，Y > 15μS)
-可聲控測量開始和結束
-自動關閉
-可存儲100個測量應用程序10000余組數據
-具有統計分析功能
-可選8種顯示語言
-RS232接口,用于連接打印(yin)機和電(dian)腦

ANOTEST YMP30-S鋁上陽極氧化膜密閉性測試儀技術參數：

測量頻率:1KHz(DIN EN ISO 12373 - 5)

量程范圍：

    測試槽直(zhi)徑(jing)6毫米(1):14 - 1400μS

    測試槽(cao)直(zhi)徑13毫(hao)米:3 - 200μS

    測(ce)試槽(cao)直徑26毫米(1):0.75 - 75μS

電源:電池9v，6*LR61

儀(yi)器尺寸(L x W x H):160 mm x 80 mm x 30毫(hao)米

質量:230克

(注(zhu))在應用測試槽直徑6毫(hao)米(mi)和26毫(hao)米(mi)時，由(you)于因為測試區域太小或者太大，所以不能進行標(biao)準化測量(liang)。