FISCHERSCOPE® X-RAY XDL材料分析測厚儀的詳細資料：

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL材料分析測厚儀

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL材料分析測厚儀

    FISCHERSCOPE® X-RAY XDL和XDLM系列與XUL和XULM系列密切相關：兩者都使用相同的接收器，準直器和濾片組合。配備了標準X射線管和固定準直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。
兩種型號的儀器都配備了比例接收器探測器。即使對于很小的測量點，由于接收器的接收面積很大，仍然可以獲得足夠高的計數率，確保良好的重復精度。
    XDLM型號的X射線源采用微聚焦管，可以測量細小的部件，對低輻射組分有較好的激勵作用。此外，XDLM配備了可自動切換的準直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應用創造激勵條件。
    比較XUL和XULM儀器而言，XDL和XDLM系列儀器測量測量方向從上到下。它們被設計為用戶友好的臺式機，使用模塊化結構，也就是說它們可以配備簡單支板，各種XY工作臺和Z軸以適應不同的需求。
    配(pei)備了可(ke)(ke)編程XY工作臺的(de)(de)版(ban)本的(de)(de)XDL系列儀(yi)(yi)器(qi)可(ke)(ke)用于自動(dong)化系列測(ce)(ce)(ce)試。它可(ke)(ke)以(yi)(yi)很方便地掃描表面，這(zhe)樣(yang)(yang)就可(ke)(ke)以(yi)(yi)檢查其均勻性。為了簡單(dan)快速定位(wei)(wei)樣(yang)(yang)品，當(dang)測(ce)(ce)(ce)量(liang)門開啟時，XY工作臺自動(dong)移動(dong)到(dao)加載位(wei)(wei)置，同時激光點(dian)指示測(ce)(ce)(ce)量(liang)點(dian)位(wei)(wei)置。對于大而平整(zheng)的(de)(de)樣(yang)(yang)品，例如(ru)線路(lu)板(ban)，殼體在側面有開口（C形槽）。由(you)于測(ce)(ce)(ce)量(liang)室空間很大，樣(yang)(yang)品放置方便，儀(yi)(yi)器(qi)不僅可(ke)(ke)以(yi)(yi)測(ce)(ce)(ce)量(liang)平面平整(zheng)的(de)(de)物體，也可(ke)(ke)以(yi)(yi)測(ce)(ce)(ce)量(liang)形狀復雜的(de)(de)大樣(yang)(yang)品（樣(yang)(yang)品高度可(ke)(ke)達140 mm）。Z軸(zhou)可(ke)(ke)電動(dong)調整(zheng)的(de)(de)儀(yi)(yi)器(qi)，測(ce)(ce)(ce)量(liang)距離還可(ke)(ke)以(yi)(yi)在0 – 80 mm的(de)(de)范圍內自由(you)選擇，這(zhe)樣(yang)(yang)就可(ke)(ke)以(yi)(yi)測(ce)(ce)(ce)量(liang)腔體內部或表面不平整(zheng)的(de)(de)物體（DCM方法(fa)）。

典型應用領域

大批量電鍍(du)件(jian)測(ce)量

防腐和裝飾性鍍(du)層，如鎳或銅上鍍(du)鉻(ge)

電鍍行業槽液分析(xi)

線(xian)路板行業如薄金(jin)，鉑(bo)和鎳鍍(du)層的策略

測(ce)量接插件(jian)和觸點(dian)的(de)鍍層

電子和半導體行(xing)業的功能性鍍層測量

黃金，珠寶和手表行業