Fischer測厚儀可檢測鎳 金 銀涂層厚度的詳細資料：

Fischer測厚儀可檢測鎳 金 銀涂層厚度及元素分析

Fischer測厚儀可檢測鎳 金 銀涂層厚度及元素分析

    Helmut Fischer集團是一家受德國和瑞士基金會控股、專業生產和銷售涂鍍層測厚儀、材料分析儀、微硬度測試儀和材料測試儀的集團公司。集團總部位于德國和瑞士，在德國、美國和英國各建有一個工廠、并設立了一個研究院和一個用戶應用實驗室，在*設有近50個分公司。
    公司由Helmut Fischer 博士于(yu)1953 年成立，自(zi)2008 年起由德(de)國辛德(de)芬根和瑞士休倫堡(bao)的(de)(de) Helmut Fischer 基金(jin)會共同(tong)擁有(you)。HELMUT FISCHER Holding AG 涂(tu)鍍(du)層測(ce)厚、材料分(fen)析、微硬(ying)度(du)測(ce)試和材料測(ce)試領域可以為您提供比(bi)較先進的(de)(de)解(jie)決方案(an)。

    FISCHER 的(de)臺式涂鍍層(ceng)測(ce)厚儀(yi)使用 X 射線熒光法或多(duo)探頭的(de)接觸式測(ce)量技術，能提供(gong)(gong)好(hao)的(de)性(xing)能和(he)靈活性(xing)。由于運用了各(ge)種(zhong)測(ce)量技術，因此能夠為任(ren)何測(ce)量任(ren)務提供(gong)(gong)合(he)適的(de)解決方案。臺式儀(yi)器可以通過軟件和(he)硬件接口輕松集成到生產和(he)質量管理系(xi)統(tong)中。

FISCHER臺式熒光射線測厚儀型號及功能

GOLDSCOPE

GOLDSCOPE系列(lie)X射線熒(ying)光儀器(qi)是(shi)專為分析黃金(jin)和其(qi)他貴金(jin)屬而設(she)計的 

XAN

用于快速、高效(xiao)地(di)測量鍍層厚度及材料成分(fen)分(fen)析的(de)測量儀(yi)器。 

XUL / XULM

基于 X 射線熒(ying)光法的測試(shi)儀(yi)器，堅固耐用(yong)，快速、高效地測量(liang)鍍(du)層厚度，特別適合電鍍(du)行業。

XDL / XDLM / XDAL

功能(neng)強大：XDL 系列儀器具有全面(mian)的(de)配置方案，可(ke)手動或自動測試，是鍍層厚度(du)測量與(yu)材料成分(fen)(fen)分(fen)(fen)析的(de)理想之選。

XDV-SDD

FISCHERSCOPE® XDV-SDD專為(wei)滿足高要求(qiu)的鍍(du)層厚度測量和材料分析而設計 

XDV-µ

FISCHER的XDV-µ型系列(lie)儀器，可(ke)用于測(ce)量(liang)電子或珠(zhu)寶等行業(ye)中微(wei)小結構的產品

XUV

X 射(she)線熒光儀器(qi)，配有用于分析(xi)輕元素的真空測(ce)量室。