Deltascope FMP10德國Fischer磁性測厚儀原理的詳細資料：

德(de)國Fischer磁性測(ce)厚儀原理

DeltaScope FMP10是一款分體式(shi)(shi)手持式(shi)(shi)涂(tu)層(ceng)測厚儀，帶探頭，便攜式(shi)(shi)涂(tu)層(ceng)測厚儀，可(ke)以(yi)測量(liang)(liang)磁鋼基(ji)板(ban)上(shang)的非(fei)磁性涂(tu)層(ceng)和鋁銅基(ji)板(ban)上(shang)的非(fei)導電涂(tu)層(ceng)的厚度(du)。根據不(bu)同(tong)的測量(liang)(liang)要求，可(ke)以(yi)更換不(bu)同(tong)規格和功能的探頭進(jin)行測量(liang)(liang)。

德國Fischer磁性測厚儀原理

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磁性測(ce)厚儀的測(ce)量原理(li)分(fen)為(wei)磁吸(xi)力測(ce)厚和磁感應測(ce)厚。

磁(ci)(ci)吸(xi)力(li)測厚基于磁(ci)(ci)鐵或(huo)磁(ci)(ci)軛（探頭）與(yu)鐵磁(ci)(ci)性材料基本之(zhi)間的(de)吸(xi)力(li)大小與(yu)兩者(zhe)之(zhi)間的(de)距離成一定比例，該(gai)距離就是非鐵磁(ci)(ci)性（包(bao)括導電(dian)與(yu)非導電(dian)）或(huo)者(zhe)與(yu)基體導磁(ci)(ci)率相差足夠(gou)大的(de)覆層厚度(du)。

目前，市面上常用(yong)的磁(ci)(ci)性測(ce)厚儀應(ying)用(yong)的是磁(ci)(ci)感應(ying)原理。它(ta)是基于利(li)用(yong)探(tan)頭經過(guo)非鐵磁(ci)(ci)性覆層(ceng)進入鐵磁(ci)(ci)性基體的磁(ci)(ci)通(tong)大小來測(ce)定涂膜厚度，也可以測(ce)定閾值對應(ying)的磁(ci)(ci)阻(zu)大小來表征覆層(ceng)厚度，當(dang)探(tan)頭與涂層(ceng)接觸時，探(tan)頭和磁(ci)(ci)性金屬基體構成(cheng)一閉合磁(ci)(ci)路，由于非磁(ci)(ci)性覆蓋層(ceng)的存在(zai)，使磁(ci)(ci)路磁(ci)(ci)阻(zu)變化(hua)(hua)，通(tong)過(guo)測(ce)量其變化(hua)(hua)可計算覆蓋層(ceng)的厚度。覆層(ceng)越(yue)厚，磁(ci)(ci)阻(zu)越(yue)大、磁(ci)(ci)通(tong)越(yue)小。