DMP10-40接觸式和非破壞性涂鍍層厚度測量的詳細資料：

DMP10-40接觸式和非破壞性涂鍍層厚度測量

DMP10-40 系(xi)列測(ce)量儀器是在磁性(xing)和非磁性(xing)基材上快速、無損地測(ce)量涂(tu)鍍層厚度的解決方案。 這些(xie)緊湊型儀器主(zhu)要(yao)用于質(zhi)量保證，以(yi)其堅固且符合人體(ti)工(gong)程(cheng)學的設計和廣泛的功能令(ling)人印象深刻(ke)。

我們為您提(ti)供(gong)范圍廣(guang)泛的用于涂(tu)鍍層厚度測量和材料測試的高精度探頭。 從 100 多(duo)種標準探(tan)(tan)頭、眾多(duo)特殊探(tan)(tan)頭以及用于特定儀器的(de)數字探(tan)(tan)頭中，我們將與您一起(qi)為您的(de)測(ce)量任務找到合適(shi)的(de)探(tan)(tan)頭。 所有 Fischer 探(tan)頭都(dou)非常(chang)堅(jian)固、耐磨并且經(jing)過研發、生產和內部測(ce)試(shi)，達(da)到最高質量(liang)標準。 只需將預(yu)校準過的探(tan)頭連接到您的測(ce)量(liang)儀(yi)器即可開始使用：儀(yi)器會自(zi)動(dong)識別探(tan)頭。

由于采用彈簧加載系(xi)統，我(wo)們的(de)(de)探(tan)頭(tou)以最佳壓力放置在工件表面上(shang)。 這減少(shao)了測(ce)(ce)量(liang)誤差并獲得(de)高可重復性，從(cong)而(er)保證您的(de)(de)測(ce)(ce)量(liang)結果(guo)。 具(ju)(ju)有曲(qu)率(lv)補(bu)(bu)償功能(neng)的(de)(de)探(tan)頭(tou)可在曲(qu)面上(shang)進行(xing)可靠測(ce)(ce)量(liang)。 另(ling)一方面，具(ju)(ju)有電導率(lv)補(bu)(bu)償功能(neng)的(de)(de)探(tan)頭(tou)可以補(bu)(bu)償基材(cai)的(de)(de)不同電導率(lv)，從(cong)而(er)避(bi)免(mian)耗時的(de)(de)校準程序。