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  • FISCHERSCOPE XDAL237 x射線鍍層測厚儀
    FISCHERSCOPE XDAL237 x射線鍍層測厚儀

    FISCHERSCOPE XDAL237 x射線鍍層測厚(hou)儀(yi) 來自德國菲希爾(er)的(de)X射線熒光(guang)測量(liang)(liang)儀(yi),帶(dai)有快速可編程的(de)XY平臺和Z軸,可自動測量(liang)(liang)薄涂層厚(hou)度和進(jin)行材(cai)料分析。 FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀(yi)器(qi)可以(yi)用來測量(liang)(liang)SnPb焊(han)層中的(de)鉛含量(liang)(liang)。

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  • 菲希爾XDLM-pcb200代理
    菲希爾XDLM-pcb200代理

    菲希爾XDLM-pcb200代理 測(ce)(ce)量(liang)印制電(dian)路(lu)板(ban)(ban)上(shang)鍍層(ceng)厚(hou)度(du)及(ji)成分分析的(de)入(ru)(ru)門(men)級(ji)、耐用(yong)型測(ce)(ce)量(liang)儀。用(yong)于測(ce)(ce)量(liang)和分析印刷電(dian)路(lu)板(ban)(ban)上(shang)的(de)涂(tu)層(ceng)厚(hou)度(du)和成分的(de)X射線熒光(guang)測(ce)(ce)量(liang)儀器(qi)。FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB儀器(qi)是專門(men)用(yong)于測(ce)(ce)量(liang)和分析印刷電(dian)路(lu)板(ban)(ban)上(shang)的(de)涂(tu)層(ceng)厚(hou)度(du)和成分的(de)堅固耐用(yong)的(de)入(ru)(ru)門(men)級(ji)儀器(qi)

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  • 菲希爾xulm-240
    菲希爾xulm-240

    菲希爾xulm-240 對于(yu)FISCHERSCOPE®X-RAYXUL和XULM系列來說,X射線(xian)源和接收(shou)器(qi)位于(yu)測量(liang)室的(de)(de)下(xia)方,這樣可以(yi)快速方便地定位樣品。除(chu)此以(yi)外,視頻窗口(kou)也可以(yi)輔助定位,儀(yi)器(qi)前方的(de)(de)大控制(zhi)臺簡化了操(cao)作

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  • 菲希爾 X-RAY
    菲希爾 X-RAY

    菲希爾 X-RAY 能量(liang)散射X射線熒光光譜法(EDXRF)作為鍍(du)層厚度測(ce)量(liang)和材料分析(xi)的(de)(de)方法,可用來定量(liang)和定性分析(xi)樣品的(de)(de)元(yuan)素組成,也可用于(yu)鍍(du)層和鍍(du)層系統的(de)(de)厚度測(ce)量(liang)。

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  • 菲希爾X-RAY XDV-µ SEMI全自動熒光分析儀
    菲希爾X-RAY XDV-µ SEMI全自動熒光分析儀

    菲希(xi)爾X-RAY XDV-µ SEMI全(quan)(quan)自動熒光(guang)分析(xi)儀 FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ SEMI 是一(yi)款全(quan)(quan)自動測量(liang)系(xi)統。針對半導(dao)體行(xing)業復雜的(de) 2.5D/3D 封裝應用中(zhong)的(de)微結構質(zhi)量(liang)控制進行(xing)了(le)優化。全(quan)(quan)自動分析(xi)可避(bi)免損壞寶(bao)貴的(de)晶圓材料。

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